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MOS
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問(wèn)題答案
( 5 )
Ø 上下行的DTX對(duì)MOS值沒(méi)有影響
Ø 上行功率控制對(duì)MOS值有影響，下行功率控制對(duì)MOS值沒(méi)有影響
Ø 不同的編碼方式對(duì)數(shù)據(jù)的壓縮是不同的，從而造成的語(yǔ)音失真也是不同的，因此在相同的無(wú)線環(huán)境下，如果編碼方式的不同會(huì)造成語(yǔ)音評(píng)估結(jié)果的不同，其中占用EFR時(shí)MOS值最好，FR時(shí)其次，HR最差
Ø 話音質(zhì)量差一般對(duì)應(yīng)的MOS值也會(huì)較差，但MOS差時(shí)對(duì)應(yīng)的話音質(zhì)量指標(biāo)不一定很差（主要MOS會(huì)受到其他方面因素的影響）
Ø 切換是以偷偵的形式在TCH上傳送，切換對(duì)語(yǔ)音質(zhì)量有較大的影響，頻繁的切換能使得MOS值大幅下降
樓主，有篇文章發(fā)到254731104@qq.com
發(fā)件人是nt_tys@mscbsc.com
希望能幫到你！
Ø 上行功率控制對(duì)MOS值有影響，下行功率控制對(duì)MOS值沒(méi)有影響
Ø 不同的編碼方式對(duì)數(shù)據(jù)的壓縮是不同的，從而造成的語(yǔ)音失真也是不同的，因此在相同的無(wú)線環(huán)境下，如果編碼方式的不同會(huì)造成語(yǔ)音評(píng)估結(jié)果的不同，其中占用EFR時(shí)MOS值最好，FR時(shí)其次，HR最差
Ø 話音質(zhì)量差一般對(duì)應(yīng)的MOS值也會(huì)較差，但MOS差時(shí)對(duì)應(yīng)的話音質(zhì)量指標(biāo)不一定很差（主要MOS會(huì)受到其他方面因素的影響）
Ø 切換是以偷偵的形式在TCH上傳送，切換對(duì)語(yǔ)音質(zhì)量有較大的影響，頻繁的切換能使得MOS值大幅下降
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回答者：
OscarDon
回答時(shí)間：2011-11-06 08:52
20
9
補(bǔ)充下：如果兩手機(jī)在同一個(gè)MSC server下通話要比不在一個(gè) server下MOS值要高。
xie5552 2011-11-06 21:38
朋友，有沒(méi)有關(guān)于“偷幀”方面或者相關(guān)的講解資料，請(qǐng)發(fā)一份給我，謝謝！
我郵箱：395230261@qq.com
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zengyu 2011-11-09 15:48
路過(guò)，不懂，圍觀！
回答者：
radio99
回答時(shí)間：2011-11-06 09:46
16
14
影響MOS的主要因素：
由于PESQ算法考慮了整個(gè)信號(hào)傳輸過(guò)程中的中斷及衰變, 而不僅是空中接口部分，因此，影響MOS的主要因素有以下幾個(gè)方面：語(yǔ)音編碼方案、Abis傳輸、Abis壓縮、不連續(xù)發(fā)射、C/I、切換頻次及質(zhì)量(RxQual)對(duì)MOS的影響等。
a) 語(yǔ)音編碼方案：
由于不同的編碼方式對(duì)數(shù)據(jù)的壓縮是不同的，從而造成的語(yǔ)音失真也是不同的，因此在相同的無(wú)線環(huán)境下，如果編碼方式的不同會(huì)造成語(yǔ)音測(cè)試結(jié)果的不同，一般情況下，對(duì)于GSM系統(tǒng)來(lái)說(shuō)，如果無(wú)線環(huán)境相同，各語(yǔ)音編碼方案MOS的平均分值關(guān)系為：增強(qiáng)型全速率（EFR）>全速率(FR)> 半速率（HR）。保定目前各MSC的語(yǔ)音編碼方案分別為：G1-G6、G8為全速率(FR)，G7為增強(qiáng)型全速率（EFR），未開(kāi)啟半速率。經(jīng)實(shí)際測(cè)試，G7在改為EFR編碼方案后，對(duì)定州部分基站進(jìn)行的測(cè)試，其MOS值為3.67左右，而在全速率編碼方案下，MOS值一般為3.1-3.2左右，可見(jiàn)語(yǔ)音編碼方案對(duì)MOS值的影響較大。
b) Abis傳輸質(zhì)量：
傳輸質(zhì)量存在問(wèn)題一般表現(xiàn)為出現(xiàn)大量的誤碼、滑碼及傳輸閃斷，傳輸質(zhì)量的問(wèn)題會(huì)引起一些話音幀的丟失，話音幀的丟失將嚴(yán)重影響到話音質(zhì)量。傳輸質(zhì)量問(wèn)題一般會(huì)有相應(yīng)的告警產(chǎn)生，因此，可根據(jù)相應(yīng)告警進(jìn)行處理。
c) LAPD壓縮：
經(jīng)測(cè)試，采用LAPD壓縮方式的小區(qū)，其MOS平均值略低于不采用LAPD壓縮方式的小區(qū)。
d) 不連續(xù)發(fā)射（DTX）：
經(jīng)鼎利公司實(shí)驗(yàn)，由于PESQ算法得出的語(yǔ)音評(píng)估值不考慮靜默幀，因此DTX功能是否開(kāi)啟不影響單個(gè)PESQ值，這是和PESQ的算法有關(guān)的。但實(shí)際DTX的開(kāi)啟會(huì)降低單個(gè)通話過(guò)程中的話音質(zhì)量，全網(wǎng)DTX的開(kāi)啟卻能提升網(wǎng)絡(luò)的C/I，有助于平均話音質(zhì)量的提高。
e) 切換頻次：
由于PESQ算法考慮了切換對(duì)語(yǔ)音的影響，因此，切換過(guò)多也會(huì)影響MOS水平。經(jīng)測(cè)試，在100秒通話時(shí)間內(nèi)切換13次，其MOS值比無(wú)切換時(shí)下降了0.215，下降比率為7.99%；在100秒內(nèi)切換10次和6次，其結(jié)果基本一致，比無(wú)切換時(shí)下降了0.13，下降比率為4.69%；而在100秒內(nèi)切換3次時(shí)，MOS值基本不受影響。因此，在后期工作中需注意切換大于3次的區(qū)域，盡量減少頻繁切換。另外，在此次測(cè)試時(shí)切換之間的時(shí)間間隔較平均，而在實(shí)際路測(cè)中，可能會(huì)出現(xiàn)在短時(shí)間內(nèi)連續(xù)的切換，會(huì)對(duì)MOS水平產(chǎn)生不利影響，此種情況也需注意避免。
f) 質(zhì)量(RxQual)、C/I與MOS的關(guān)系：
經(jīng)鼎利公司實(shí)驗(yàn)，質(zhì)量、C/I與MOS的關(guān)系如下：
占用FR時(shí)，當(dāng)下行RXQUAL大于5.1左右時(shí)，下行PESQ有所惡化；當(dāng)下行RXQUAL大于5.6左右時(shí)，下行PESQ值低于3.3；當(dāng)下行RXQUAL大于6左右時(shí)，下行PESQ直線下降到無(wú)法忍受的程度；
當(dāng)C/I大于13.4 時(shí)，下行PESQ值基本不受影響；
當(dāng)C/I大于3.5而小于13.4時(shí)，下行PESQ值可能不受影響，也可能受到影響，和傳送測(cè)試話音期間的下行RXQUAL值有關(guān)；
當(dāng)C/I小于3.5時(shí)，下行PESQ值下降很快，甚至?xí)鸬粼挕?span lang=EN-US>
話音質(zhì)量（RxQual）差一般對(duì)應(yīng)的MOS值也會(huì)較差，但MOS差時(shí)對(duì)應(yīng)的話音質(zhì)量（RxQual）不一定差（因MOS還會(huì)受到其他方面因素的影響）。
由于PESQ算法考慮了整個(gè)信號(hào)傳輸過(guò)程中的中斷及衰變, 而不僅是空中接口部分，因此，影響MOS的主要因素有以下幾個(gè)方面：語(yǔ)音編碼方案、Abis傳輸、Abis壓縮、不連續(xù)發(fā)射、C/I、切換頻次及質(zhì)量(RxQual)對(duì)MOS的影響等。
a) 語(yǔ)音編碼方案：
由于不同的編碼方式對(duì)數(shù)據(jù)的壓縮是不同的，從而造成的語(yǔ)音失真也是不同的，因此在相同的無(wú)線環(huán)境下，如果編碼方式的不同會(huì)造成語(yǔ)音測(cè)試結(jié)果的不同，一般情況下，對(duì)于GSM系統(tǒng)來(lái)說(shuō)，如果無(wú)線環(huán)境相同，各語(yǔ)音編碼方案MOS的平均分值關(guān)系為：增強(qiáng)型全速率（EFR）>全速率(FR)> 半速率（HR）。保定目前各MSC的語(yǔ)音編碼方案分別為：G1-G6、G8為全速率(FR)，G7為增強(qiáng)型全速率（EFR），未開(kāi)啟半速率。經(jīng)實(shí)際測(cè)試，G7在改為EFR編碼方案后，對(duì)定州部分基站進(jìn)行的測(cè)試，其MOS值為3.67左右，而在全速率編碼方案下，MOS值一般為3.1-3.2左右，可見(jiàn)語(yǔ)音編碼方案對(duì)MOS值的影響較大。
b) Abis傳輸質(zhì)量：
傳輸質(zhì)量存在問(wèn)題一般表現(xiàn)為出現(xiàn)大量的誤碼、滑碼及傳輸閃斷，傳輸質(zhì)量的問(wèn)題會(huì)引起一些話音幀的丟失，話音幀的丟失將嚴(yán)重影響到話音質(zhì)量。傳輸質(zhì)量問(wèn)題一般會(huì)有相應(yīng)的告警產(chǎn)生，因此，可根據(jù)相應(yīng)告警進(jìn)行處理。
c) LAPD壓縮：
經(jīng)測(cè)試，采用LAPD壓縮方式的小區(qū)，其MOS平均值略低于不采用LAPD壓縮方式的小區(qū)。
d) 不連續(xù)發(fā)射（DTX）：
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e) 切換頻次：
由于PESQ算法考慮了切換對(duì)語(yǔ)音的影響，因此，切換過(guò)多也會(huì)影響MOS水平。經(jīng)測(cè)試，在100秒通話時(shí)間內(nèi)切換13次，其MOS值比無(wú)切換時(shí)下降了0.215，下降比率為7.99%；在100秒內(nèi)切換10次和6次，其結(jié)果基本一致，比無(wú)切換時(shí)下降了0.13，下降比率為4.69%；而在100秒內(nèi)切換3次時(shí)，MOS值基本不受影響。因此，在后期工作中需注意切換大于3次的區(qū)域，盡量減少頻繁切換。另外，在此次測(cè)試時(shí)切換之間的時(shí)間間隔較平均，而在實(shí)際路測(cè)中，可能會(huì)出現(xiàn)在短時(shí)間內(nèi)連續(xù)的切換，會(huì)對(duì)MOS水平產(chǎn)生不利影響，此種情況也需注意避免。
f) 質(zhì)量(RxQual)、C/I與MOS的關(guān)系：
經(jīng)鼎利公司實(shí)驗(yàn)，質(zhì)量、C/I與MOS的關(guān)系如下：
占用FR時(shí)，當(dāng)下行RXQUAL大于5.1左右時(shí)，下行PESQ有所惡化；當(dāng)下行RXQUAL大于5.6左右時(shí)，下行PESQ值低于3.3；當(dāng)下行RXQUAL大于6左右時(shí)，下行PESQ直線下降到無(wú)法忍受的程度；
當(dāng)C/I大于13.4 時(shí)，下行PESQ值基本不受影響；
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回答者：
zw956cn
回答時(shí)間：2011-11-06 09:46
17
9
編碼方式、頻繁切換、覆蓋電平和其他情況
回答者：
ws13
回答時(shí)間：2011-11-09 15:44
11
14
很詳細(xì)，學(xué)習(xí)下！
回答者：
李云杉
回答時(shí)間：2011-11-10 19:15
14
13
• 成都旗訊通信技術(shù)有限公司
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