【資料名稱】：關于ATU測試MOS低的分析

【資料作者】：討生活

【資料日期】：2012-2-1

【資料語言】：中文

【資料格式】：DOC

【資料目錄和簡介】：

在ATU測試分析時，目前對MOS的分析普遍存在不規(guī)范，不合理，沒有系統(tǒng)性，總結性的分析方法，不能明確的指出一個MOS采樣點差的原因。現(xiàn)有的分析手段主要從編碼速率，每CALL切換量，語音Rxquality質量三方面來分析，但由于一次的測試時間為3個小時，數(shù)據(jù)量較大，會帶來以下幾方面的問題：

1.編碼速率較低，是在哪些路段？多長時間？假設半速率占比為1%，對MOS影響有多大？
2.為什么每CALL切換量較低，仍然會出現(xiàn)MOS差點？
3.語音Rxquality質量差對MOS的影響有多大？
4.如何判斷是否為設備原因的問題導致MOS差？

為了解決以上問題，就需要對每個測試數(shù)據(jù)，每個MOS采樣點進行詳細的分析，需通過簡潔明了的方式一步一步排查出每個MOS差點的原因。