優(yōu)化案例 9.1、PUSCH BLER高案例 <br /><br />問題現(xiàn)狀�� <br /><br />最近在上南路高青路做業(yè)務(wù)測試時發(fā)現(xiàn)PUSCH BLER較高�７謩e對Cell175進行了多次不同<br /><br />狀態(tài)下的測試�７謩e為由其他小區(qū)切換至Cell175、處于定點狀態(tài)下占用Cell175、處于移動<br /><br />狀態(tài)下穩(wěn)定占用Cell175進行測試�Ｔ谶@三種狀態(tài)下��Cell175的PUSCH BLEW均很高�Ｍ瑫r��<br /><br />在占用Cell175的時候��UE會多次出現(xiàn)重建的情況。 <br /><br /> 上南路高青路問題路段調(diào)整前測試情況�� �� 在切換占用上Cell175以后測試情況截圖 <br /><br /> <br /><br /> <br /><br />�� 在定點狀態(tài)下   <br /><br />�� 處于移動狀態(tài)穩(wěn)定占用Cell175 <br /><br />  <br /><br /> 調(diào)整措施��對Cell175進行了Lock&Unlock操作。 <br /><br /> <br /><br />調(diào)整后復(fù)測情況說明�Ｔ趯�Cell175進行了相應(yīng)的調(diào)整以后�⒃谠瓎栴}路段及進行復(fù)測��復(fù)<br /><br />測過程中發(fā)現(xiàn)�Ｔ�先切換至Cell175(Cell177切換至Cell175以及Cell174切換至Cell175)均會 出現(xiàn)PUSCH BLEW偏高的問題已經(jīng)得到了解決。調(diào)整后�Ｔ谇袚Q占用上Cell175的時候��PUSCH <br /><br />BLEW值維持在10以下�Ｔ�先在Cell175的過程中會頻繁重建的問題也得到了解決。調(diào)整后<br /><br />復(fù)測情況如下圖所示��  <br /><br /> <br /><br /> 后續(xù)問題�ひ呀�(jīng)抓取了UE側(cè)和eNB側(cè)的相關(guān)Trace��準備進一步分析定位問題。 <br /><br />9.2、天饋調(diào)整案例 <br /><br />問題現(xiàn)狀�� <br /><br />在上南路永泰路路段附近進行業(yè)務(wù)測試時��UE在Cell183和Cell181之間切換的過程中<br /><br />會出現(xiàn)SNR突降�Ｍ瑫r檢測到許多奇怪的Cell ID的情況��導(dǎo)致切換失敗事件頻發(fā)。懷疑是<br /><br />Cell181和Cell183小區(qū)之間的干擾所導(dǎo)致的��準備對Site61的天饋進行了相應(yīng)的排查和調(diào)整。

[ 本帖最后由 jimgreen 于 2013-12-23 12:17 編輯 ]