VoLTE語音MOS優(yōu)化分析方法

1、MOS差的問題點定位

測試log單次通話連續(xù)兩個采樣點MOS值小于3的問題點定義為MOS差的問題點。

注意事項：需剔除通話結(jié)束的最后一個采樣點與下次通話第一個采樣點的MOS值都小于3的問題點。

2、MOS優(yōu)化分析方法

由MOS采樣點機制可以看出，MOS采樣點收集的是采樣時間點前8秒的語音質(zhì)量，所以在分析的時候，需著重分析MOS采樣時間前8秒UE本端的下行（包括：無線環(huán)境、語音編碼、抖動、丟包、頻繁切換、RRC重建、異頻測量頻次等），以及對端的上行（包括：頻繁切換、RRC重建、異頻測量頻次等）。

三、VoLTE語音MOS值的影響因素及優(yōu)化思路

1、MOS值的影響因素

MOS值的直接影響因素為：端到端時延、抖動、丟包；

VoLTE端到端時延可以分解為：UE語音編/解碼時延、空口傳輸時延、核心網(wǎng)的處理時延、傳輸網(wǎng)的傳輸時延。丟包和抖動的影響因素包括：空口信號質(zhì)量、eNB負(fù)載、傳輸網(wǎng)的丟包和抖動。

故將以上因素分解后，MOS的影響因素包括：語音編碼、覆蓋、干擾、切換、鄰區(qū)、基站負(fù)荷、基站故障、傳輸、核心網(wǎng)、測試終端、人為操作失誤等。

2、MOS值的優(yōu)化思路

結(jié)合以上影響因素和前期VoLTE拉網(wǎng)測試時遇到的MOS問題，共總結(jié)出四類問題點類型：無線問題、基站異常、測試規(guī)范和設(shè)備、核心網(wǎng)/傳輸。

在分析MOS問題時，我們首先要考慮基站是否正常工作，其次考慮測試是否規(guī)范、測試設(shè)備是否正常，再次判斷是否為無線問題造成的，最后才考慮是否核心網(wǎng)及傳輸網(wǎng)引起的。

因此我們在分析MOS問題時，應(yīng)該按以下步驟進(jìn)行MOS優(yōu)化：

VOLTEmos分析.docx