【LTE性能指標】質(zhì)量類指標之下行MAC PDU殘余誤塊率

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                          表 2  下行MAC PDU殘余誤塊率

性能指標名稱

統(tǒng)計時間粒度

統(tǒng)計區(qū)域粒度

下行MAC PDU殘余誤塊率

15分鐘、30分鐘、1小時、、1天、

Cell

指標意義

表征了下行MAC層分組業(yè)務(wù)的重要質(zhì)量指標,也是分組業(yè)務(wù)網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化的重要工作,表征HARQ性能。

指標定義

反應在測量周期內(nèi)下行重傳失敗的TB塊的比例

KPI指標的計算公式為:

下行MAC PDU殘余誤塊率 =下行TB塊殘留誤包總包數(shù)/小區(qū)下行TB塊總數(shù)= C373454815 / C373454801

用到的計數(shù)器說明

下行TB塊殘留誤包總包數(shù) C373454815

小區(qū)下行TB塊總數(shù) C373454801

備注

此處傳輸塊是指完整TB塊,不是碼塊分割的塊。


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