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相關(guān)專題：
表 1 上行MAC PDU殘余誤塊率
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性能指標(biāo)名稱 |
統(tǒng)計時間粒度 |
統(tǒng)計區(qū)域粒度 |
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上行MAC PDU殘余誤塊率 |
15分鐘、30分鐘、1小時、…、1天、… |
Cell |
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指標(biāo)意義 |
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表征了上行MAC層分組業(yè)務(wù)的重要質(zhì)量指標(biāo)，也是分組業(yè)務(wù)網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化的重要工作，表征HARQ性能。 |
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指標(biāo)定義 |
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反應(yīng)在測量周期內(nèi)上行重傳失敗的TB塊的比例. KPI指標(biāo)的計算公式為： 上行MAC PDU殘余誤塊率 ＝上行TB塊殘留誤包總包數(shù)/小區(qū)上行TB塊總數(shù)=
C373454814 / C373454803 |
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用到的計數(shù)器說明 |
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上行TB塊殘留誤包總包數(shù) C373454814 小區(qū)上行TB塊總數(shù) C373454803 |
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備注 |
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此處傳輸塊是指完整TB塊，不是碼塊分割的塊。 |
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