基于虛擬儀器技術(shù)的混合集成電路測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

　　摘　要：設(shè)計(jì)了一種基于虛擬儀器技術(shù)的混合集成電路的性能參數(shù)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。簡(jiǎn)要介紹了測(cè)控系統(tǒng)的總體設(shè)計(jì)方案和基本的硬件配置結(jié)構(gòu)，詳細(xì)介紹了此系統(tǒng)在LabWindows/CVI開發(fā)環(huán)境下的軟件設(shè)計(jì)方法和功能實(shí)現(xiàn)。本系統(tǒng)充分利用GPIB總線技術(shù)和RS232總線技術(shù)，具有很好的可控性和通用性。
　　關(guān)鍵詞：集成電路測(cè)試；虛擬儀器；GPIB總線；測(cè)試數(shù)據(jù)庫

Design of the Test System for Multi-ICs Based on VI Technology

XIE Guohong, WANG Lei, WU Jiduo

(Sino　German College, Tongji University, Shanghai 200092, China)

　　Abstract: A kind of test system for multi-ICs based on VI technology was developed. The design scheme and the hardware configration of the testing system and the software design method in LabWindows/CVI were introduced in deteail. The adoption of GPIB and RS232 has greatly developed the controland universality of the test system.
　　Key words: IC testing; virtual instrument; GPIB bus; test database


　　混合集成電路性能參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)主要為檢測(cè)集成電路芯片是否符合出廠參數(shù)而設(shè)計(jì)。本測(cè)試系統(tǒng)可完成八種不同集成電路多項(xiàng)性能參數(shù)測(cè)試，包括：工作電流、工作電壓、載波抑制比、跨導(dǎo)、工作頻率、噪聲系數(shù)、傳輸系數(shù)、帶寬、增益、隔離度等。同時(shí)對(duì)測(cè)試參數(shù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)、分類及打印，并根據(jù)出廠參數(shù)對(duì)集成電路是否合格進(jìn)行自動(dòng)判別。

　　測(cè)試儀器采用一臺(tái)示波器就可以滿足所有波形顯示要求，一臺(tái)網(wǎng)絡(luò)頻譜阻抗分析儀可以滿足所有帶寬、頻譜測(cè)試要求。同時(shí)，信號(hào)源應(yīng)具有良好的可控性、高精度、低噪聲和優(yōu)良的調(diào)整性能。��

1測(cè)試系統(tǒng)的總體方案設(shè)計(jì)及基本的硬件配置

　　在本系統(tǒng)中，測(cè)試信號(hào)源的電壓電流值在30V/50mA以下，頻率在300MHz以下，直流電源采用Agilent的E3631A，另一信號(hào)源采用Tektronix的任意波形發(fā)生器AWG2021。測(cè)試儀器采用Agilent的HP4395A網(wǎng)絡(luò)頻譜阻抗分析儀、HP34401A數(shù)字萬用表、N8973A噪聲系數(shù)分析儀［1］。這些儀器都具有GPIB通訊接口。同時(shí)，為了完成儀器的控制和不同集成電路的自動(dòng)識(shí)別，分別采用GPIB總線技術(shù)和RS232總線技術(shù)。GPIB實(shí)現(xiàn)儀器控制、測(cè)試控制和測(cè)試數(shù)據(jù)的傳輸，RS232實(shí)現(xiàn)對(duì)集成電路的選擇。

　　硬件系統(tǒng)由工控計(jì)算機(jī)、信號(hào)源、測(cè)試設(shè)備、測(cè)試工作臺(tái)、集成電路適配器插座、連接電纜和控制總線組成，并設(shè)計(jì)統(tǒng)一的插座接口，基本硬件結(jié)構(gòu)如圖1所示。



　　測(cè)試過程中，通用儀器全部連接到測(cè)試工作臺(tái)上，測(cè)試不同的集成電路選用相應(yīng)的適配器插座即可，具體功能實(shí)現(xiàn)如下：

　　(1)全部?jī)x器通過GPIB總線接入到工控機(jī)，由工控機(jī)完成系統(tǒng)控制(儀器的初始化和參數(shù)設(shè)置等)和集成電路性能參數(shù)的測(cè)量；

　　(2)工控機(jī)的一路RS-232通信接口連接到測(cè)試臺(tái)，用于測(cè)試臺(tái)內(nèi)部的測(cè)試電路的切換；同時(shí)RS-232通信接口經(jīng)過測(cè)試臺(tái)連接到適配器插座上，用于控制適配器內(nèi)部電路的切換。
　　(3)適配器插座：每個(gè)被測(cè)集成電路都配備有一個(gè)專門的測(cè)試適配器，適配器上配備有測(cè)試插座。適配器內(nèi)含有測(cè)試所需的外圍電路和必要的測(cè)量切換電路，每個(gè)適配器都具有一個(gè)固定的ID號(hào)，即具有一個(gè)識(shí)別號(hào)，以便于RS-232總線控制和切換。��

2測(cè)控系統(tǒng)的軟件設(shè)計(jì)

2.1軟件開發(fā)平臺(tái)

　　LabWindows/CVI是National Instrument公司推出的交互式C語言開發(fā)平臺(tái)，是一種32位開放性開發(fā)系統(tǒng)，它可以直接兼容多種形式的C/C++代碼，提供系統(tǒng)開發(fā)的函數(shù)代碼框架，具有動(dòng)態(tài)數(shù)據(jù)交換、對(duì)I/O的操作以及對(duì)C／C++代碼直接調(diào)用等功能［2］。

2.2軟件模塊及功能實(shí)現(xiàn)

　　在應(yīng)用LabWindows/CVI進(jìn)行應(yīng)用程序的開發(fā)過程中，通常在開發(fā)環(huán)境中設(shè)計(jì)一個(gè)用戶接口，實(shí)際就是在用戶計(jì)算機(jī)屏幕上定義一個(gè)函數(shù)面板(軟面板)。它由程序開發(fā)者所定義的控件(如旋鈕、菜單項(xiàng)、刻度盤、開關(guān)等)所組成，用戶選擇這些控件時(shí)就可以產(chǎn)生一系列用戶接口的消息，我們把這些消息稱為事件。例如，當(dāng)用戶單擊一個(gè)面板控件時(shí)即獲得發(fā)生事件的面板句柄和控件ID號(hào)，并傳遞給相應(yīng)的C++應(yīng)用子程序，從而實(shí)現(xiàn)相應(yīng)的用戶功能［3］。這其中主要應(yīng)用了Windows編程中的事件驅(qū)動(dòng)機(jī)制。LabWindows／CVI中對(duì)事件的處理方法也有兩種，即回調(diào)函數(shù)法和事件循環(huán)處理。我們?cè)谠摐y(cè)控程序中主要采用回調(diào)函數(shù)法。回調(diào)函數(shù)法是開發(fā)者為“軟面板”上的控制項(xiàng)編寫的一個(gè)獨(dú)立函數(shù)，當(dāng)選中某一個(gè)控制項(xiàng)時(shí)，就調(diào)用相應(yīng)函數(shù)對(duì)此事件進(jìn)行處理。本測(cè)試軟件功能的實(shí)現(xiàn)主要通過主程序控制模塊調(diào)用相應(yīng)的子程序?qū)崿F(xiàn)，子程序主要包括信號(hào)源控制、測(cè)試數(shù)據(jù)采集及處理和結(jié)果分析等。具體的軟件結(jié)構(gòu)如圖2所示。

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2.3軟件采用的關(guān)鍵技術(shù)

　　(1)GPIB總線控制模塊

　　LabWindows/CVI中的GPIB函數(shù)庫可以實(shí)現(xiàn)打開和關(guān)閉GPIB設(shè)備、總線配置、I/O讀寫、GPIB設(shè)備控制、總線控制等功能。GPIB函數(shù)庫既包含了上層函數(shù)又擁有底層函數(shù)。上層函數(shù)不需要訪問相應(yīng)的底層協(xié)議就可以實(shí)現(xiàn)總線控制，但其功能有限；而底層函數(shù)可以更為靈活的控制總線，但是需要了解相應(yīng)的底層協(xié)議。在本系統(tǒng)中，所采用的測(cè)控儀器都具有GPIB通訊接口，通過三個(gè)主要的函數(shù)來實(shí)現(xiàn)儀器間的通訊和控制：


　　
　　(2)測(cè)試數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)和處理模塊

　　測(cè)試數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)和處理通過LabWindows/CVI SQL Toolkit來實(shí)現(xiàn)。LabWindows/CVI SQL Toolkit是一個(gè)用來訪問數(shù)據(jù)庫的軟件包，集成電路測(cè)試數(shù)據(jù)以二維表的形式存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫管理系統(tǒng)中，然后進(jìn)行數(shù)據(jù)的分析和處理，與集成電路的出廠測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行比較并自行判斷被測(cè)集成電路是否合格。

　　同時(shí)集成電路的出廠測(cè)試數(shù)據(jù)保存在記事本文件中，以便從軟件界面中很方便的打開供測(cè)試人員進(jìn)行初步的判斷：
　　

3結(jié)束語

　　綜上所述，所開發(fā)的混合集成電路測(cè)試系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)集成電路性能參數(shù)的測(cè)試和判別，而且具有很好的可維護(hù)性、可理解性和可靠性。軟件設(shè)計(jì)中采用了數(shù)據(jù)庫和格式文本來描述被測(cè)設(shè)備的數(shù)學(xué)模型，從而實(shí)現(xiàn)了檢測(cè)設(shè)備與被測(cè)設(shè)備的分離，極大的提高了系統(tǒng)的通用性。

參考文獻(xiàn)

［1］the Measurement and Automation Catalog 2004［Z］.National Instruments,2004.
［2］張毅剛，喬立巖，等.虛擬儀器軟件開發(fā)環(huán)境LabWindows/CVI6.0［M］.北京：機(jī)械工業(yè)出版社，2002.
［3］劉亞.虛擬儀器的構(gòu)建技術(shù)［J］.計(jì)算機(jī)自動(dòng)測(cè)量與控制，1997，7(3)：41-43.