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概述
本文描述了如何搭建一個(gè)自動(dòng)的電磁干擾(EMI)測(cè)試系統(tǒng)，重點(diǎn)介紹了測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)的問(wèn)題及其相應(yīng)解決方法，并介紹了如何正確的配置系統(tǒng)及其參數(shù)。為規(guī)避錯(cuò)誤及不同測(cè)試環(huán)境和測(cè)試員之間的差異，自動(dòng)化EMI測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)化是很有必要的。
1．關(guān)于自動(dòng)化電磁兼容(EMC)測(cè)量
1.1 效率
具有合適的測(cè)試及控制方法的自動(dòng)EMC測(cè)量可提高實(shí)驗(yàn)室效率、避免浪費(fèi)時(shí)間。通過(guò)自動(dòng)測(cè)量可遠(yuǎn)離那些大量煩瑣冗余的重復(fù)性EMI測(cè)量。
1.2 一致性
完整的測(cè)試系統(tǒng)消除了因人工讀寫和記錄引起的誤差，而且軟件可以保持與儀器設(shè)置的一致性。因此，自動(dòng)EMC測(cè)試系統(tǒng)能夠給出高度可重現(xiàn)的測(cè)試結(jié)果。從根本上來(lái)說(shuō)，不管是人工測(cè)量還是軟件控制下的測(cè)量，幅射電平的精確度是沒(méi)有區(qū)別的。在兩種情形下，測(cè)量的不確定性來(lái)自測(cè)試裝置所使用的設(shè)備的精度標(biāo)準(zhǔn)。
另一方面，軟件控制下的儀器的不同設(shè)置可產(chǎn)生不同的測(cè)試結(jié)果。所以，與自動(dòng)EMI測(cè)量相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)正在興起。在測(cè)量過(guò)程中，我們必須根據(jù)CISPR16-2標(biāo)準(zhǔn)來(lái)配置軟件和儀器。
為確保測(cè)試結(jié)果的有效性，測(cè)試系統(tǒng)具有校正因子及自動(dòng)監(jiān)視功能。
1.3 測(cè)試結(jié)果和數(shù)據(jù)的管理
對(duì)軟件來(lái)說(shuō)能夠非常方便和高效地創(chuàng)建一個(gè)數(shù)據(jù)庫(kù)，以便保存和檢查測(cè)試結(jié)果。
1.4 自動(dòng)測(cè)量期間的問(wèn)題
盡管使用自動(dòng)測(cè)量有許多優(yōu)點(diǎn)，但我們?nèi)孕鑿?qiáng)調(diào)可能導(dǎo)致錯(cuò)誤結(jié)果的一些要點(diǎn)，諸如頻率掃描過(guò)程中的問(wèn)題、測(cè)量時(shí)間設(shè)置、關(guān)鍵數(shù)據(jù)簡(jiǎn)化與篩選、天線高度、校準(zhǔn)及修正。
2. 用于EMI測(cè)量的掃描規(guī)則—參數(shù)配置
表1：CISPR范圍時(shí)的最小化掃描次數(shù)
2.1 EMI測(cè)試的頻率掃描步驟
在EMI測(cè)量過(guò)程中，測(cè)試員時(shí)常關(guān)注是否忽視了一些頻點(diǎn)。在接收機(jī)模式中，測(cè)試頻率按步進(jìn)方式(逐點(diǎn))掃描，因此為了避免忽略頻點(diǎn)，如何設(shè)置步距是非常重要的。在頻譜分析儀模式中，測(cè)試頻率是連續(xù)掃描的，但顯示在頻譜儀上的頻點(diǎn)數(shù)卻是有限的，因此如何定位峰值的真實(shí)頻率至關(guān)重要。
在接收機(jī)模式中，該如何設(shè)置步距呢？步距必須小于中頻(IF)帶寬的一半，通常我們使用IF帶寬的一半。
依據(jù)EMC標(biāo)準(zhǔn)，接收機(jī)的IF帶寬定義為-6dB帶寬。如果我們使用不合適的步距，則會(huì)有一些峰值丟失或出現(xiàn)錯(cuò)誤結(jié)果。例如，若步距等于IF帶寬，一些頻點(diǎn)(兩相鄰測(cè)試點(diǎn)的中間)的測(cè)試結(jié)果將比正確的測(cè)量值少6dB(圖1)；若步距少于1/2 IF帶寬，則錯(cuò)誤將會(huì)小于1dB(圖2)。
圖1：步距等于中頻帶寬
圖2：步距等于1/2 中頻帶寬
依據(jù)EMC標(biāo)準(zhǔn)，我們可以使用帶有-6dB IF帶寬和預(yù)選擇器的頻譜分析儀。在分析儀模式中，顯示頻點(diǎn)的數(shù)目將影響測(cè)試結(jié)果。如果我們想在結(jié)果曲線上知道準(zhǔn)確的頻率值，則需要做局部掃描(放大頻率軸)。在局部掃描過(guò)程中，須設(shè)置為SPAN/(頻點(diǎn)數(shù))<1/2 RBW。
