基于線陣CCD掃描的測(cè)量技術(shù)

0 引言

在基于機(jī)器視覺(jué)的零件二維尺寸測(cè)量通常采用面陣CCD相機(jī)作為圖像采集設(shè)備,由于面陣CCD相機(jī)的像素分辨率較低。使得在測(cè)量精度要求較高的場(chǎng)合很難完成測(cè)量任務(wù)。線陣CCD器件具有空間分辨率高的特點(diǎn),可以實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。近年來(lái),利用線陣CCD進(jìn)行無(wú)接觸一維測(cè)量已經(jīng)得到廣泛應(yīng)用。本文提出采用線陣CCD相機(jī)對(duì)零件進(jìn)行平行掃描采集零件圖像,實(shí)現(xiàn)零件二維尺寸的高精度測(cè)量。

1 線陣CCD掃描測(cè)量原理

線陣CCD掃描測(cè)量系統(tǒng)主要由線陣CCD相機(jī)、運(yùn)動(dòng)工作臺(tái)、控制電路及線光源等組成,掃描測(cè)量原理如圖1所示。

被測(cè)零件放置于運(yùn)動(dòng)工作臺(tái)上,隨工作臺(tái)一起以速度v向右方行進(jìn),零件未進(jìn)入相機(jī)視場(chǎng)AB時(shí),線光源所發(fā)射光線直接通過(guò)光學(xué)成像系統(tǒng)成為一幀灰度值較高的背景圖像,當(dāng)零件進(jìn)入相機(jī)視場(chǎng)時(shí),零件遮擋光線使得采集圖像含有零件輪廓信息,將所有輸出圖像按采集的先后關(guān)系進(jìn)行拼接,即可得到完整的高分辨率零件圖像,通過(guò)圖像處理得到零件的二維幾何尺寸。

2 掃描同步控制

掃描同步控制是線陣CCD掃描測(cè)量零件二維幾何尺寸的關(guān)鍵技術(shù),也是影響系統(tǒng)測(cè)量精度的最主要因素。所謂掃描同步是指:?jiǎn)挝粫r(shí)間內(nèi)線陣CCD相機(jī)所采集圖像總和對(duì)應(yīng)的物方實(shí)際尺寸與零件的行進(jìn)速度相同。當(dāng)掃描同步時(shí),獲取的零件圖像與實(shí)際零件相比沒(méi)有發(fā)生變形,如圖2(a)所示,對(duì)其進(jìn)行處理的結(jié)果最接近零件尺寸的真實(shí)值;當(dāng)相機(jī)采集速度大于零件行進(jìn)速度時(shí),零件圖像被拉長(zhǎng),如圖2(b)所示,對(duì)其進(jìn)行處理的結(jié)果將大于零件尺寸的真實(shí)值;當(dāng)相機(jī)采集速度小于零件行進(jìn)速度時(shí),零件圖像被壓縮,如圖2(c)所示。對(duì)其進(jìn)行處理的結(jié)果小于零件尺寸的真實(shí)值。

為保證對(duì)零件尺寸測(cè)量的準(zhǔn)確性,需要進(jìn)行同步控制。線陣CCD的像素尺寸S為14μm×14 μm,線掃描速度vx為500幀/秒,鏡頭焦距f為50 mm,鏡頭到零件的距離D為150 mm,則CCD像素所對(duì)應(yīng)的物方尺寸L為:

則單位時(shí)間內(nèi)線陣CCD相機(jī)所采集圖像總和對(duì)應(yīng)的物方實(shí)際尺寸(即CCD相機(jī)掃描圖像速度v)為:

在這種情況下,要實(shí)現(xiàn)零件掃描同步則要求零件的行進(jìn)速度為21 mm/s。

3 圖像處理算法

通過(guò)以上分析,對(duì)系統(tǒng)的運(yùn)動(dòng)工作臺(tái)的行進(jìn)速度進(jìn)行嚴(yán)格控制,使之與CCD相機(jī)的掃描速度達(dá)到很好的同步效果,實(shí)際采集零件圖像如圖3所示。

3.1 圖像邊緣提取

由于需布置光源,而光源隨時(shí)間會(huì)有所衰減。所以對(duì)圖像采用邊緣檢測(cè)的算法,以減小光源亮度變化對(duì)圖像檢測(cè)的影響。要得到圖像的輪廓尺寸,邊緣檢測(cè)是測(cè)量的基礎(chǔ)和關(guān)鍵。由于圖像往往含有噪聲。而邊緣和噪聲在空間域都表現(xiàn)為灰度有較大的起落,給邊緣提取帶來(lái)困難。通過(guò)仿真比較,最終采用了3*3的平滑算子和抗噪能力較強(qiáng)的sobel檢測(cè)算子,它對(duì)灰度漸變和噪聲較多的圖像處理效果較好,對(duì)邊緣定位比較準(zhǔn)確,能夠滿足我們對(duì)圖像測(cè)量的需要。由sobel算子提取被測(cè)零件的圖像邊緣如圖4(a)所示,圖像邊緣是一條細(xì)環(huán),由于圖像太大,顯示圖為33%的縮略圖,看起來(lái)間斷的地方很多,其實(shí)是連續(xù)的,大部分邊是單像素寬,左下角部分400%的顯示圖如圖4(b)所示。

 

作者:王澤民,高俊釵,左乾縣 西安工業(yè)大學(xué)   來(lái)源:山西電子技術(shù)
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