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在電子測量技術(shù)中，測頻測相是最基本的測量之一。相位測量儀是電子領(lǐng)域的常用儀器，當(dāng)前測頻測相主要是運用等精度測頻、PLL鎖相環(huán)測相的方法。研究發(fā)現(xiàn)，等精度測頻法具有在整個測頻范圍內(nèi)保持恒定的高精度的特點，但是該原理不能用于測量相位。PLL鎖相環(huán)測相可以實現(xiàn)等精度測相，但電路調(diào)試較復(fù)雜。因此，選擇直接測相法作為低頻測相儀的測試方法[1、2、3、4]。
設(shè)計的低頻測相儀，滿足以下的技術(shù)指標：a .頻率20-20KHz；b .輸入阻抗≥100KΩ；c.相位測量絕對誤差≤1度； d.具有頻率測量和數(shù)字顯示功能；e.顯示相位讀數(shù)為0度--359度。
1系統(tǒng)工作原理
圖1 測頻測相系統(tǒng)原理框圖
系統(tǒng)工作原理如圖1所示，系統(tǒng)運行時，首先由單片機通過clr控制線送清零信號，啟動CPLD的計數(shù)模塊，在設(shè)計的CPLD內(nèi)部控制模塊作用下，記錄AB兩相的相差間隔時間內(nèi)的標頻個數(shù)（測相計數(shù)器），同時也記錄下A相一個周期內(nèi)的標頻個數(shù)（測頻計數(shù)器），此后測頻和測相計數(shù)器處于保持狀態(tài)，同時送出right信號表明完成測頻測相的計數(shù)，單片機可以讀數(shù)據(jù)。
單片機和CPLD的數(shù)據(jù)采用獨立接口方式，這樣設(shè)計比較靈活，可以不受單片機總線時序的影響。由ADD[0..2]進行控制，分別讀取測頻測相計數(shù)器中的19位數(shù)據(jù)，并存于單片機中，進行后續(xù)的計算。單片機完成數(shù)據(jù)的運算后，將所得數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為10進制，送到顯示板進行顯示。顯示板共有8個數(shù)碼管，其中，前5位用于顯示頻率（最大為20000Hz）,后三位顯示相位（最大為359度）。
在CPLD設(shè)計中，根據(jù)計算，選取測頻、測相計數(shù)器長度均為19位，在標頻信號為10MHz時，相位測量精度小于1度。若只用89C51，其自帶的計數(shù)器只有16位，且不易同時實現(xiàn)測頻測相的功能。故選用CPLD實現(xiàn)其測頻測相的計數(shù)功能，并設(shè)計了獨立的數(shù)據(jù)接口，以便與單片機交換數(shù)據(jù)[5、6]。
2 CPLD測頻測相模塊工作原理
圖2 CPLD測頻測相內(nèi)部原理框圖
如圖2所示，利用VHDL語言設(shè)計了完成測頻測相計數(shù)功能的數(shù)字芯片。整個芯片由測頻計數(shù)器、測相計數(shù)器、控制部分、數(shù)據(jù)選擇器和測試用分頻器5個部分組成。
控制部分主要是利用狀態(tài)機原理，設(shè)計了檢測一個測頻周期的控制電路。在clr信號為高時，啟動測頻測相計數(shù)器，此時，狀態(tài)機處于計數(shù)工作狀態(tài)；當(dāng)A相第一個上升沿到來時，測頻測相計數(shù)器同時啟動，開始計數(shù)；當(dāng)B相第一個上升沿到來時，控制部分控制測相計數(shù)器停止計數(shù)；當(dāng)A相第二個上升沿到來時，控制部分控制測頻計數(shù)器停止計數(shù)，同時送出計數(shù)完成信號right；此后測頻測相計數(shù)器處于保持狀態(tài)。
