FPGA易測試性分析

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現(xiàn)代科技對系統(tǒng)的可靠性提出了更高的要求,而FPGA技術(shù)在電子系統(tǒng)中應(yīng)用已經(jīng)非常廣泛,因此FPGA易測試性就變得很重要。要獲得的FPGA內(nèi)部信號十分有限、FPGA封裝和印刷電路板(PCB)電氣噪聲,這一切使得設(shè)計調(diào)試和檢驗變成設(shè)計中最困難的一個流程。另一方面,當前幾乎所有的像CPU、DSP、ASIC等高速芯片的總線,除了提供高速并行總線接口外,正迅速向高速串行接口的方向發(fā)展,F(xiàn)PGA也不例外。每一條物理鏈路的速度從600 Mbps到10 Gbps,高速I/O的測試和驗證更成為傳統(tǒng)專注于FPGA內(nèi)部邏輯設(shè)計的設(shè)計人員所面臨的巨大挑戰(zhàn)。這些挑戰(zhàn)使設(shè)計人員非常容易地將絕大部分設(shè)計時間放在調(diào)試和檢驗設(shè)計上。
  
  本文就調(diào)試FPGA系統(tǒng)時遇到的問題及有助于提高調(diào)試效率的方法,針對Altera和Xilinx的FPGA調(diào)試提供了最新的方法和工具。
  
  1 FPGA一般設(shè)計流程
  
  在FPGA系統(tǒng)設(shè)計完成前,有2個不同的階段:設(shè)計階段、調(diào)試和檢驗階段,如圖1所示。設(shè)計階段的主要任務(wù)是輸入、仿真和實現(xiàn);調(diào)試和檢驗階段的主要任務(wù)是檢驗設(shè)計,校正發(fā)現(xiàn)的錯誤。

1.1 設(shè)計階段
 
  在這一階段不僅要設(shè)計,而且要使用仿真工具開始調(diào)試。實踐證明,正確使用仿真為找到和校正設(shè)計錯誤提供了一條有效的途徑。但是,不應(yīng)依賴仿真作為調(diào)試FPGA設(shè)計的唯一工具。
  
  在設(shè)計階段,還需要提前考慮調(diào)試和檢驗階段,規(guī)劃怎樣在線快速調(diào)試FPGA,這可以定義整體調(diào)試方法,幫助識別要求的任何測試測量工具,確定選擇的調(diào)試方法對電路板設(shè)計帶來的影響。針對可能選用的FPGA存在的高速總線,除了考慮邏輯時序的測試和驗證外,還應(yīng)該充分考慮后面可能面臨的信號完整性測試和分析難題。
  
  1.2 調(diào)試和檢驗階段
  
  在調(diào)試階段,必須找到仿真沒有找到的棘手問題。怎樣以省時省力的方式完成這一工作是一個挑戰(zhàn)。本文將研究如何選擇正確的FPGA調(diào)試方法及如何有效地利用新方法的處理能力,這些新方法可以只使用少量的FPGA針腳查看許多內(nèi)部FPGA信號。如果使用得當,可以突破最棘手的FPGA調(diào)試問題。
  
  1.3 FPGA調(diào)試方法
  
  在設(shè)計階段需要作出的關(guān)鍵選擇是使用哪種FPGA調(diào)試方法。在理想情況下,設(shè)計者希望有一種方法,這種方法可以移植到所有FPGA設(shè)計中,能夠洞察FPGA內(nèi)部運行和系統(tǒng)運行過程,為確定和分析棘手的問題提供相應(yīng)的處理能力。
  
  基本在線FPGA調(diào)試方法有2種:使用嵌入式邏輯分析儀以及使用外部邏輯分析儀。選擇使用何種方法取決于項目的調(diào)試需求。

 

   來源:21IC電子網(wǎng)
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