RFID分集系統(tǒng)設(shè)計(jì)

相關(guān)專題: 芯片

  庫存管理系統(tǒng)現(xiàn)在依靠無源RFID技術(shù)進(jìn)行產(chǎn)品的實(shí)時(shí)自動(dòng)識(shí)別。對(duì)許多應(yīng)用來說,使用RFID的投資回報(bào)是可接受的。這些系統(tǒng)必須能夠?qū)崟r(shí)捕獲到全部在場(chǎng)庫存產(chǎn)品的信息,這就要求RFID系統(tǒng)必須能夠百分百地讀取所有被貼以標(biāo)簽的物品。RFID系統(tǒng)的讀取能力是涉及到許多變量的一個(gè)函數(shù),這些變量包括:標(biāo)簽大小、方向、放置方式,以及查詢器天線(IA)設(shè)計(jì)。不幸的是,對(duì)所有單天線設(shè)計(jì)來說都存在讀不到標(biāo)簽的“黑洞”。通過分析并確認(rèn)這些黑洞,業(yè)界已開發(fā)出一種方法,即利用對(duì)ISO 15693/ISO 18000-3(13.56-MHz)物品等級(jí)系統(tǒng)的多樣性來實(shí)現(xiàn)百分之百的讀取能力。

  諸如智能卡車/貨柜等高頻(HF)RFID系統(tǒng)在該領(lǐng)域發(fā)揮著作用,很多制造商和方案供應(yīng)商都提供此類產(chǎn)品。這些并不昂貴的系統(tǒng)采用無源RFID標(biāo)簽(大量生產(chǎn)時(shí)單價(jià)不到25美分),這項(xiàng)技術(shù)在跟蹤臨床高價(jià)值物品時(shí)具有巨大潛力,其中一些物品有一定的保質(zhì)期。例如,在醫(yī)院的心導(dǎo)管實(shí)驗(yàn)室通常會(huì)有的儲(chǔ)物柜內(nèi),可能會(huì)存放著250多個(gè)支架,總價(jià)值估計(jì)達(dá)37.5萬美元。取決于醫(yī)院規(guī)模,有可能會(huì)使用四個(gè)這樣的儲(chǔ)物柜,其內(nèi)的物品每4個(gè)月要被消耗掉,相當(dāng)于這樣一個(gè)儲(chǔ)物柜每年“經(jīng)手”的物品價(jià)值高達(dá)1.125百萬美元。植入式心臟去纖顫器(ICD)也是醫(yī)院內(nèi)的高價(jià)值物品。它們體積小(采用約3×4×6英寸的包裝),但是價(jià)值卻在10,000至20,000美元。它們通常儲(chǔ)存在諸如加鎖儲(chǔ)物柜等安全空間。在此類應(yīng)用中,使用RFID可以降低因某些物品備貨不足或過量而導(dǎo)致的成本損失,并且可以更好地掌控這些貴重物品的下落。

  一個(gè)基本的RFID系統(tǒng)包括一個(gè)主機(jī)系統(tǒng)和多個(gè)RF組件(圖1)。RF組件包括一個(gè)射頻查詢器(讀寫器和天線)以及標(biāo)簽。查詢器的目的是與現(xiàn)場(chǎng)標(biāo)簽通信,對(duì)無源系統(tǒng)來說,查詢器還通過發(fā)射的RF信號(hào)給標(biāo)簽供電。查詢器負(fù)責(zé)協(xié)議處理、給標(biāo)簽供電、讀取標(biāo)簽信息、將信息寫入標(biāo)簽,并確保將信息有效傳遞到主機(jī)系統(tǒng)。

  ISO 15693標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:只有當(dāng)“置身”于射頻場(chǎng)時(shí),無源標(biāo)簽才被激活。為激活無源標(biāo)簽,由射頻場(chǎng)感應(yīng)來的電壓(VTag)必須足夠高,要達(dá)到嵌入在標(biāo)簽內(nèi)的RFID芯片工作所需的最低電壓水平。VTag 值是標(biāo)簽尺寸/方向與磁場(chǎng)強(qiáng)度幅值的函數(shù),對(duì)一個(gè)理想環(huán)路來說,VTag 可以表述為:

  VTag = 2πf0NQB(Scosa) (1)

  其中:

  N=標(biāo)簽線圈的繞組數(shù),

  Q = 標(biāo)簽的質(zhì)量因數(shù),

  B=磁場(chǎng)強(qiáng)度,

  S =標(biāo)簽線圈的面積,

  a = 標(biāo)簽的指向角

  圖1:一個(gè)基本的RFID系統(tǒng)包括一個(gè)主機(jī)系統(tǒng)和多個(gè)RF組件。

  圖1:一個(gè)基本的RFID系統(tǒng)包括一個(gè)主機(jī)系統(tǒng)和多個(gè)RF組件。

  磁場(chǎng)強(qiáng)度(B)由圓形查詢器天線(IA)產(chǎn)生,可由式2表述:

  B = (μ0INa2)/2r3 (2)

  其中:

  I = IA線圈電流,

  N = IA線圈繞組數(shù),

  a = IA線圈半徑,

  μ0 =無礙空間的磁導(dǎo)率,

  r = 到IA的距離。

  從這些方程,我們可以推導(dǎo)出標(biāo)簽大小和方向之間,以及與沿IA軸線感應(yīng)出的場(chǎng)強(qiáng)之間的關(guān)系。當(dāng)標(biāo)簽和查詢器接近時(shí),雖然借助兩者間復(fù)雜的反應(yīng)式近場(chǎng)關(guān)系,其耦合關(guān)聯(lián)得以建立,但是只能被上述等式勉強(qiáng)表述,特別是當(dāng)r 《《 a且偏離查詢器的軸線時(shí),其耦合關(guān)系難以準(zhǔn)確預(yù)測(cè)。在實(shí)際的物件級(jí)應(yīng)用中,標(biāo)簽通常是靠近查詢器天線的,所以基于這個(gè)原因,選擇并不完全依賴這些預(yù)測(cè)。

  圖2:本次研究中使用的最小的RFID標(biāo)簽,只有硬幣大小。

  圖2:本次研究中使用的最小的RFID標(biāo)簽,只有硬幣大小。

  該機(jī)制對(duì)理解射頻黑洞很關(guān)鍵,它既與IA和標(biāo)簽的設(shè)計(jì)相關(guān),也受兩者間交互的影響。HF標(biāo)簽有多種設(shè)計(jì)和尺寸,通常分為兩大類:平面和三維(3D)設(shè)計(jì)。平面標(biāo)簽是較常見的那種薄紙載體型,而三維標(biāo)簽內(nèi)含鐵氧體且體積小得多。這項(xiàng)研究中使用的標(biāo)簽都是平面型。由于性能是標(biāo)簽和IA的函數(shù),所以這里探討了三種不同大小的常用標(biāo)簽的功能,其中圖2所示標(biāo)簽尺寸最小,圖3為兩種不同尺寸且設(shè)計(jì)截然不同的IA。對(duì)在感應(yīng)場(chǎng)內(nèi)只有一個(gè)標(biāo)簽和多個(gè)標(biāo)簽的情況,對(duì)讀寫器的反應(yīng)做了記錄。對(duì)在感應(yīng)場(chǎng)內(nèi)通常會(huì)有許多產(chǎn)品挨著擺放的實(shí)際應(yīng)用情況來說,這種做法頗有代表性。這些測(cè)量的目的,是力圖勾畫出一個(gè)可代表實(shí)際系統(tǒng)的三維空間,并定位出任何存在的RF黑洞。

  圖3:兩種典型的RFID查詢器天線(IA),兩個(gè)天線的PCB走線中,都有一些關(guān)鍵位置。

  圖3:兩種典型的RFID查詢器天線(IA),兩個(gè)天線的PCB走線中,都有一些關(guān)鍵位置。

  射頻黑洞的位置信息可用來定位其他天線的位置,使其在一個(gè)“沒有黑洞”的分集系統(tǒng)中發(fā)揮作用。常用的分集系統(tǒng)(圖4)內(nèi)置單刀多擲開關(guān),用來將多個(gè)天線路由至RFID讀寫器。此類系統(tǒng)被設(shè)計(jì)可以頻繁在眾多天線中切換,采用PIN二極管開關(guān),與只有單一可移動(dòng)天線RFID系統(tǒng)所用的機(jī)械繼電器比,PIN二極管的平均無故障時(shí)間(MTBF)要長(zhǎng)得多。目前市面上已推出商用的整合了帶復(fù)用電路讀寫器(有些能處理多達(dá)256個(gè)查詢器天線)的分集RFID系統(tǒng),而價(jià)格也相對(duì)可接受。

  圖4: 該框圖顯示的,是使用多條CAT5線纜處理RF和數(shù)字控制信號(hào)的分集系統(tǒng)。

  圖4: 該框圖顯示的,是使用多條CAT5線纜處理RF和數(shù)字控制信號(hào)的分集系統(tǒng)。

  在整個(gè)測(cè)試設(shè)置中,RFID讀寫器被認(rèn)為是最關(guān)鍵的部分,它被規(guī)定按照ISO 15693/ISO 18000-3 Mode 1協(xié)議的要求工作。該ISO標(biāo)準(zhǔn)是成熟的,在全球范圍得到認(rèn)可,許多資深的制造商可提供各種讀寫器型號(hào)和標(biāo)簽大小。由于在一次掃描中可能會(huì)發(fā)現(xiàn)大量物件,所選的RFID讀寫器有能力在每次掃描中讀識(shí)最少100個(gè)標(biāo)簽。測(cè)試系統(tǒng)所選的讀寫器的(射頻)輸出是1W、來自可靠的制造商。本測(cè)試也評(píng)估了低功耗(200至250mW)讀寫器,但發(fā)現(xiàn)對(duì)特定的物件級(jí)應(yīng)用來說,其讀識(shí)范圍不理想。另外評(píng)估了功率高達(dá)10W的讀寫器,但并沒發(fā)現(xiàn)性能有顯著改善。此外,高功率水平與建議使用的IA相結(jié)合,會(huì)超過監(jiān)管的輻射水平。且這些大功率讀寫器的成本比實(shí)際測(cè)試所用的低功耗版本要高近一個(gè)數(shù)量級(jí)。

  由于在實(shí)際使用模型中,大量標(biāo)簽會(huì)非常緊湊地放在一起,所以設(shè)計(jì)人員擔(dān)心查詢器的失諧效應(yīng)會(huì)降低讀寫器性能,從而影響到標(biāo)簽的正確讀取。所測(cè)得的單一查詢器天線的回波損耗響應(yīng)(S11)接近50(圖5),與讀寫器給出的特性阻抗匹配。圖5還顯示了在不同標(biāo)簽大小條件下,查詢器的S11響應(yīng)。較大的標(biāo)簽,與查詢器耦合得非常好,對(duì)S11響應(yīng)有顯著影響,將其置于讀寫器約明的要求之外。有些讀寫器根本讀取不了挨得很近的標(biāo)簽,其廠家表示,高度的不匹配將“吞沒”接收器電路,以致檢測(cè)不到標(biāo)簽。但在這項(xiàng)研究中使用的讀寫器在這種條件下表現(xiàn)良好。除將標(biāo)簽非常近地靠近查詢器的PCB走線,針對(duì)查詢器S11的單標(biāo)簽(相對(duì)于多個(gè)標(biāo)簽)惡化現(xiàn)象并不嚴(yán)重。希望單標(biāo)簽測(cè)試發(fā)現(xiàn)的射頻黑洞會(huì)類似于多標(biāo)簽測(cè)試中所發(fā)現(xiàn)的,以加快以后查詢器設(shè)計(jì)的驗(yàn)證過程。

  在預(yù)測(cè)試時(shí),一個(gè)簡(jiǎn)單的無源RF探針會(huì)很有用(圖6)。探針包含一個(gè)標(biāo)簽,其RFID芯片被發(fā)光二極管(LED)所取代,LED可用以指示EM場(chǎng)的存在;采用不同大小的標(biāo)簽組裝三個(gè)探針。雖然這個(gè)測(cè)試工具僅需一美元,很粗糙,但作為一種可定位RF黑洞的實(shí)時(shí)探針卻很有效。該探針能夠定位當(dāng)時(shí)無法明顯憑直觀感覺到的射頻黑洞。當(dāng)標(biāo)簽非?拷樵兤鲿r(shí),射頻黑洞暴露了出來,且對(duì)稱地分布在環(huán)形PCB走線的周圍。讀寫器的S11響應(yīng)驗(yàn)證了這種情況,當(dāng)標(biāo)簽放置在這些位置時(shí),觀察不到變化,根據(jù)小環(huán)形探針記錄的S21測(cè)量情況也證明了這點(diǎn)。

  這表明了可借助矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA),通過觀察S11 和S21隨標(biāo)簽或PCB導(dǎo)線環(huán)運(yùn)動(dòng)的響應(yīng)變化,來觀測(cè)射頻黑洞。通過對(duì)不同尺寸標(biāo)簽以及查詢器天線的進(jìn)一步檢測(cè)表明,在PCB走線的相同位置存在著黑洞。測(cè)試發(fā)現(xiàn),讀取效果不好的區(qū)域相當(dāng)大,且都在PCB導(dǎo)線環(huán)附近、很有可能放置標(biāo)簽的位置。

  圖5: 單一查詢器天線的回波損耗響應(yīng)(S11)接近50。

  圖5: 單一查詢器天線的回波損耗響應(yīng)(S11)接近50。

  圖6: 該RFID標(biāo)簽作為一個(gè)簡(jiǎn)單的測(cè)試探針使用,其RFID芯片被一個(gè)發(fā)光二極管(LED)所取代。

  圖6: 該RFID標(biāo)簽作為一個(gè)簡(jiǎn)單的測(cè)試探針使用,其RFID芯片被一個(gè)發(fā)光二極管(LED)所取代。

 

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