確定RF抗干擾能力的測(cè)量技術(shù)

　　引言

　　目前，大多數(shù)蜂窩電話采用時(shí)分多址（TDMA）標(biāo)準(zhǔn)，這種復(fù)用技術(shù)以217Hz的頻率對(duì)高頻載波進(jìn)行通/斷脈沖調(diào)制。容易受到RF干擾的IC會(huì)對(duì)該載波信號(hào)進(jìn)行解調(diào)，再生出217Hz及其諧波成分的信號(hào)。由于這些頻譜成分的絕大多數(shù)都落入音頻范圍，因此它們會(huì)產(chǎn)生令人生厭的“嗡嗡”聲。由此可見，RF抗干擾能力較差的電路會(huì)對(duì)蜂窩電話的RF信號(hào)解調(diào)，并會(huì)產(chǎn)生不希望聽到的低頻噪音。作為質(zhì)量保證的測(cè)試手段，測(cè)量時(shí)需要將電路置于RF環(huán)境中，該環(huán)境要與正常操作時(shí)電路的工作環(huán)境相當(dāng)。

　　本文說明了一種通用的集成電路RF噪聲抑制測(cè)量技術(shù)。RF抗干擾能力測(cè)試將電路板置于可控制的RF信號(hào)電平下，RF電平代表電路工作時(shí)可能受到的干擾強(qiáng)度。從而產(chǎn)生了一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)化、結(jié)構(gòu)化的測(cè)試方法，使用這種方法能夠得到在質(zhì)量分析中可重復(fù)的測(cè)試結(jié)果。這樣的測(cè)試結(jié)果有助于IC選型，從而獲得能夠抵抗RF噪聲的電路。

　　可以將被測(cè)器件（DUT）靠近正在工作的蜂窩電話，以測(cè)試其RF敏感度。但是，為了得到一個(gè)精確的、具有可重復(fù)性的測(cè)試結(jié)果，需要采用一種固定的測(cè)量方法，在可重復(fù)的RF場(chǎng)內(nèi)測(cè)試DUT。解決方案是采用RF測(cè)試電波暗室，提供一個(gè)可精確控制的RF場(chǎng)，相當(dāng)于典型移動(dòng)電話所產(chǎn)生的RF場(chǎng)。

　　RF抗干擾能力測(cè)試裝置下面我們對(duì)MAX4232雙運(yùn)放和一款競(jìng)爭(zhēng)產(chǎn)品X的RF抗干擾能力測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比較。RF抗干擾能力測(cè)試電路（圖1）給出了待測(cè)雙運(yùn)放的電路板連接。每個(gè)運(yùn)算放大器配置成交流放大器。沒有交流信號(hào)輸入時(shí)，輸出設(shè)置在1.5V直流電平（VCC = 3V）。反相輸入通過模擬輸入端PCB引線的1.5英寸環(huán)線短路至地。該環(huán)路用來模擬實(shí)際的引線效應(yīng)，實(shí)際引線在工作頻率下相當(dāng)于天線，接收、解調(diào)RF信號(hào)。在輸出端連接一個(gè)電壓表（dBV），測(cè)量、量化運(yùn)算放大器的RF噪聲抑制能力。

　　圖1. MAX4232雙運(yùn)放的RF噪聲抑制能力測(cè)試電路

　　Maxim的RF測(cè)試裝置（圖2）產(chǎn)生用于測(cè)試RF抗干擾能力的RF場(chǎng)。測(cè)試電波暗室具有一個(gè)屏蔽室，作用與法拉第腔的屏蔽室類似，具有連接電源和輸出監(jiān)視器的端口。把下面列舉的設(shè)備連接起來就可以組成測(cè)試裝置：

　　信號(hào)發(fā)生器：9kHz至3.3GHz （Rhode & Schwarz SML-03）

　　RF功率放大器：800MHz至1GHz，20W （OPHIR 5124）

　　功率計(jì)：25MHz至1GHz （Rhode & Schwarz）

　　平行線單元（電波暗室）

　　場(chǎng)強(qiáng)檢測(cè)儀

　　計(jì)算機(jī)（PC）

　　電壓表（dBV）

　　圖2. RF噪聲抑制能力測(cè)試裝置

　　信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生所需頻率的RF調(diào)制信號(hào)，并將其饋送到功率放大器。通過一個(gè)與功率計(jì)連接的定向耦合器測(cè)量并監(jiān)視功率放大器（PA）輸出。計(jì)算機(jī)通過控制信號(hào)發(fā)生器輸出的頻率范圍、調(diào)制類型、調(diào)制百分比以及PA的功率輸出建立所需要的RF場(chǎng)。電場(chǎng)通過天線（平面型）在屏蔽電波暗室內(nèi)輻射，經(jīng)過精確校準(zhǔn)產(chǎn)生均勻、一致的可重復(fù)電場(chǎng)。

　　典型蜂窩電話附近的RF場(chǎng)強(qiáng)近似為60V/m （距離手機(jī)天線4cm處），遠(yuǎn)離手機(jī)后場(chǎng)強(qiáng)降低。在距離手機(jī)10cm處，場(chǎng)強(qiáng)降至25V/m。因此在電波暗室內(nèi)產(chǎn)生一個(gè)均勻的60V/m場(chǎng)強(qiáng)，以模擬DUT所處的RF環(huán)境（60V/m的輻射強(qiáng)度可以保證被測(cè)器件不至于發(fā)生電平鉗位，避免測(cè)量誤差）。所采用的射頻信號(hào)是在800MHz至1GHz蜂窩電話頻率范圍內(nèi)變化的RF正弦波，使用1000Hz的音頻頻率進(jìn)行調(diào)制，調(diào)制深度為100%。用217Hz頻率調(diào)制時(shí)可以得到類似結(jié)果，但1000Hz是更常用的音頻頻率，為便于評(píng)估，這里選擇了1000Hz。通過電波暗室的接入端口為DUT提供電源，并通過接入端口連接電壓表，讀取dBV值（相對(duì)于1V的dB）。通過調(diào)整DUT在電波暗室內(nèi)的位置，并使用場(chǎng)強(qiáng)檢測(cè)儀可以精確校準(zhǔn)RF場(chǎng)。

　　圖3. 使用圖2測(cè)試裝置得到的兩個(gè)雙運(yùn)放的RF噪聲抑制測(cè)試結(jié)果

　　測(cè)試結(jié)果兩個(gè)雙運(yùn)放（MAX4232和競(jìng)爭(zhēng)產(chǎn)品X）的測(cè)試結(jié)果如圖3所示，測(cè)量值為平均輸出dBV。RF頻率在800MHz至1GHz范圍內(nèi)變化時(shí)，在均勻的60V/m電場(chǎng)中，MAX4232的平均輸出大約為-66dBV （500µV RMS相對(duì)于1V）；競(jìng)爭(zhēng)產(chǎn)品X的平均輸出大約為-18dBV （125mV RMS，相對(duì)于1V）。沒有RF信號(hào)時(shí)，電壓表的讀數(shù)為-86dBV。

　　因此，MAX4232輸出的變化量只有-20dB （-86dBV到-66dBV），即RF干擾導(dǎo)致MAX4232輸出從50µV RMS變化到500µV RMS。在RF干擾環(huán)境下，MAX4232的變化因子是10。因此可以推斷出MAX4232具有出色的RF抗干擾能力（-66dBV），不會(huì)產(chǎn)生明顯的輸出失真。

　　而器件X的噪聲抑制平均讀數(shù)僅有-18dBV，這意味著在RF影響下輸出變化為125mV RMS （相對(duì)于1V）。這個(gè)增加值很大，是正常值50µV RMS的2500倍。因此，器件X的RF抗干擾能力很差（-18dBV），當(dāng)靠近蜂窩電話或其它RF源時(shí)可能無法正常工作。顯然，對(duì)于音頻處理應(yīng)用如耳機(jī)放大器和話筒放大器，MAX4232是一個(gè)更好的選擇。

　　總結(jié)總之，為了保證產(chǎn)品在RF環(huán)境下的工作質(zhì)量，RF抗干擾能力的測(cè)量是電路板和IC制造商必須考慮的步驟。RF電波暗室測(cè)量裝置提供了一個(gè)既經(jīng)濟(jì)、靈活，又精確的RF抗干擾能力測(cè)量方法。