利用愛立信TTS功能進(jìn)行信道射頻性能檢測

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1、原理介紹

Transceiver Test and Supervision (TTS)是愛立信公司針對200系列基站設(shè)計的一項功能,它要求在200系列基站配備專用測試器——TRXT(Transceiver Tester),這樣既可以隨時進(jìn)行檢測,也可以按周期自動測試。為每個基站配備TRXT性價比較低,因此該設(shè)備實際應(yīng)用很少,在2000系列基站也沒有該設(shè)計。TRXT原理如圖1所示。

圖1 TRXT原理

從原理圖可知,TRXT與BTS/BSC控制邏輯上的連接并不緊密,并無直接的有線基帶信令控制鏈路,完全是射頻通路連接,實際上只相當(dāng)于一臺手機(jī),只是依靠BTS供電和收集故障信息。從操作指令上看,TRXT的控制邏輯單元在BSC上表現(xiàn)為一個IMSI。因此可以推定,無論是200還是2000系列設(shè)備,都可以用普通手機(jī)代替TRXT來測試信道的射頻性能。以下把用于該測試的手機(jī)簡稱為TRXT。

2、測試方法

根據(jù)相關(guān)文檔介紹和實踐經(jīng)驗可知,該方法的基本測試過程如下。

●把TRXT放在待測小區(qū),對待測小區(qū)定義TRXT的IMSI,使BSC可采用該號碼在小區(qū)內(nèi)進(jìn)行呼叫。

●定義TRXT的發(fā)射功率、無線路徑衰耗和評估門限值,使BSC可以自動計算每個TCH的功率和接收靈敏度并判斷是否合格。

●選擇合適的測試方式,可以人工即時測試,也可按周期自動測試。測試開始后,BSC自動呼叫TRXT,并在小區(qū)內(nèi)自動選取一個空閑的TCH建立呼叫,TRXT開始振鈴后自動結(jié)束本次呼叫,同時完成對上行電平、質(zhì)量(TS測量)和下行電平、質(zhì)量(TRXT測量并隨測量報告發(fā)回到BTS)的統(tǒng)計和分析(測量電平與預(yù)定的路徑損耗加起來,并和設(shè)定基站功率比較計算)。如此反復(fù),直到測試完該小區(qū)內(nèi)所有空閑TCH,如果部分TCH始終未曾空閑過,則放棄對該TCH的測試。

●在BSC上自動生成測試報告。

部分常用指令如下:

RATTI:CELL=XXX,IMSI=XXXXXXX,ATTDL=XX,ATTUL=XX,TRXTPWR=33;//其中CELL為被測試小區(qū)名,IMSI為測試手機(jī)IMSI,ATTDL是估算的下行信號衰減值,ATTUL是估算的上行信號衰減值,TRXTPWR是手機(jī)功率,可以直接設(shè)為33;

RATTC:CELL=XXX,…;∥用于修改評估參數(shù);

RATMI:CELL=XXXX://開始人工測試。

下面以一個測試結(jié)果舉例說明。

其中,ESSDL是下行信號強(qiáng)度的理論值,計算公式為ESSDL=BSPWRT-ATTDL;MSSDL是TRXT測量到的下行信號強(qiáng)度,是實測值;ESSUL是上行信號強(qiáng)度的理論值,計算公式為ESSUL=TRXTPWR-ATTUL;MSSUL是基站接收到的TRXT上行信號強(qiáng)度,是實測值;BERDL是實際測量的下行誤碼率;BERUL是實際測量的上行誤碼率。

測試中應(yīng)注意以下問題。

●ATTDL和ATTUL應(yīng)設(shè)定得盡量小,使MSSDL和MSSUL盡量偏離ESSDL和ESSUL。這樣可使測量結(jié)果均為FAULTY,同時會輸出FCODE和對應(yīng)的Tx、Rx、Ts編號及測量值?梢酝ㄟ^修改ATTDL、ATTUL等參數(shù)使測試結(jié)果全部為FAULTY,從而方便對比各個時隙的測量結(jié)果。如果一個TCH的測試結(jié)果為APPORVED,則不會顯示對應(yīng)的Ts、Tx、Rx測量值。

●要關(guān)注均衡度而不應(yīng)關(guān)注具體電平值。只要個別時隙偏離較大,就可以認(rèn)為有問題。因為,同一小區(qū)的各TCH測試結(jié)果不應(yīng)有較大差距(前提是測試過程中TRXT不變動位置,否則會因空間路徑的變化影響測試結(jié)果)。

●受瑞利衰落和設(shè)備不穩(wěn)定等因素的影響,要多測幾次,取平均值作為評估值,同時應(yīng)盡量將TRXT放在天線的直射范圍內(nèi),使周圍環(huán)境相對穩(wěn)定,以減少測試誤差。

●盡量在話務(wù)閑時安排測試。因為目前話務(wù)負(fù)荷普遍偏高,BSC選取空閑TCH的等待時間較長,可能不能測完所有TCH,會造成信息缺損。

●TRXT一定要選用愛立信公司的產(chǎn)品,不一定是TEMS類測試機(jī),普通手機(jī)也可以。其他公司的手機(jī)在測試時,對下行電平的測量沒有問題,對上行電平的測量會出現(xiàn)嚴(yán)重誤差,其原因尚不得知。

3、實際應(yīng)用情況舉例

大口圩第3小區(qū)接通率長期偏低,只有50%~70%,無錯誤告警,使用本方法對該小區(qū)進(jìn)行了測試。為驗證該方法的有效性和準(zhǔn)確性,測試時使用TEMS記錄基站的呼叫情況,如圖2所示。

圖2 大口圩等3小區(qū)測試結(jié)果

從圖2可看出,部分TCH的電平明顯異常(圖中圓圈標(biāo)記部分),表明在從SDCCH指配到TCH后,電平急劇下降;矩形標(biāo)記部分則是正常的,表明在從SDCCH指配到TCH后,功率沒有突變。

由測試結(jié)果可知,MSSDL的值正常情況下應(yīng)在-56~-50之間波動,但在TCH-6216、TCH-6217、TCH-6219的測試結(jié)果中,MSSDL的值突然下降到-63左右,在輸出結(jié)果中可以看到對應(yīng)的MO是第3載波的Tx,可以判斷該Tx有問題,這與圖2中部分TCH低電平的結(jié)果相吻合。MSSUL值在-80左右波動,但在TCH-6234、TCH-6236、TCH-6238的測試結(jié)果中,MSSUL的值在-90以下,在輸出結(jié)果中可以看到對應(yīng)的MO是第2載波的Rx和Ts,可以判斷該載波的Rx有問題。更換相應(yīng)設(shè)備后,該小區(qū)接通率恢復(fù)到93%以上。

4、結(jié)束語

以上介紹了用于基站設(shè)備的測試方法,本方法具有簡單快速、無需專用設(shè)備、無需關(guān)閉跳頻、結(jié)果相對準(zhǔn)確而客觀的優(yōu)點,是一種很好的檢測方法。本方法還可用于直放站設(shè)備的測試。

 

作者:譚超 龔晶 尹健強(qiáng)   來源:電信技術(shù)
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