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1 引言
在電路測試中。常常需要測試頻率特性。電路的頻率特性體現(xiàn)了放大器的放大性能與輸入信號頻率之間的關系。頻率特性測試儀是顯示被測電路幅頻、相頻特性曲線的測量儀器。在此，采用集成的直接數(shù)字合成器(DDS)AD985l，現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)及外圍測量電路設計了一個頻率特性測試儀。
2 系統(tǒng)總體設計方案
圖1給出該測試儀的系統(tǒng)結構框圖。它主要包括控制及運算模塊、測量電路模塊、顯示模塊、信號源模塊等�？紤]到該系統(tǒng)不僅需要運算，而且還需要必要的數(shù)字控制電路，因此控制及運算模塊選用了單片機與FPGA相結合方式。由于DDS采用了相位累加合成技術，在數(shù)字域中實現(xiàn)頻率合成．可以輸出高精度與高純度的頻率信號，不僅頻率范圍大，精度高，控制性好，易于實現(xiàn)，而且避免采用單片函數(shù)發(fā)生器作為信號源時，外接電容電阻對頻率的影響，其速度也比采用數(shù)字鎖相環(huán)(PLL)頻率合成技術快。因此，根據(jù)系統(tǒng)所需信號源的頻帶及頻率分辨率等參數(shù)的要求，采用集成DDS器件作為信號源。AD985l是ADI公司推出的基于先進CMOS技術的高集成度DDS，在外接參考頻率源時，它能產(chǎn)生頻譜純凈、頻率和相位都可控且高穩(wěn)定度的正弦波，具有即時頻率轉換，控制靈活，體積小，成本低，功耗小等優(yōu)點。AD985l的最高晶體振蕩器為180 MHz，具有32位頻率分辨率。
通過將相位量轉換為數(shù)字脈沖量，再測量數(shù)字脈沖的占空比反映相位差的方法選擇測量方式。該方法測量精度要比采用波形分析法高，比采用相位一電壓轉換法占用存儲空間小，電路較簡單，可使測量精度和占用空間得到平衡。在幅度測量時，所用測試信號源輸出為標準正弦波，所以有效值與幅值之間存在簡單的線性關系。利用該線性關系，可將測量的有效值轉化為幅值。這種方法只需在有效值檢波器件的外圍添加適當?shù)碾娮�、電容即可實現(xiàn)，且電路簡單。檢波器件采用AD637，當測量信號的峰值系數(shù)高達10時，附加誤差僅為1％，且頻帶較寬。
3 硬件電路設計
3．1 信號源電路設計
信號源電路是以集成的DDS器件AD9851為核心，并結合外圍電路而構成的。為減少干擾，穩(wěn)定輸出頻率，系統(tǒng)設計將AD9851及其外圍電路集成在印制電路板上。圖2給出其原理圖。
3．2 相位差測量電路
相位差測量電路由限幅放大電路及整形電路組成。限幅放大電路應選超高擺率，輸出電流大，耐壓高的運算放大器。同時，為使進入比較器的信號更穩(wěn)定，應選取增益帶寬積較大的運算放大器。因此可選取圖3所示的LF356限幅放大電路。經(jīng)限幅放大后的兩路信號需經(jīng)相同的整形電路才能進入FP—GA進行相位差測量，其具體的一路整形電路如圖4所示。該整形電路以LM311作為過零比較器，采用遲滯回環(huán)比較接法，可有效避免在過零點時因信號干擾和抖動帶來的跳變。圖5給出FPGA中相位差測量電路的內部邏輯圖。其工作原理是：首先將兩路信號異或后，與其中任意的一路信號相與，得到與原信號頻率相同，以及由占空比反映相位差大小的方波，再對該方波和原信號同時計數(shù)，判斷極性后，即可得出相位差。
4 系統(tǒng)軟件設計
圖6給出具體系統(tǒng)軟件設計流程圖。它主要包含初始化、鍵盤處理及掃頻等。
4．1 AD9851初始化輸出
AD9851的輸出頻率與控制字的關系為：控制字(32 bit)=頻率(Hz)x時鐘/232
在編寫軟件時．通過按鍵中斷程序將自動和手動掃描分為兩個子程序。主程序則在開始掃描時合并這兩個子程序，實現(xiàn)頻率特性的測量，這部分代碼由循環(huán)結構和判斷分支結構重復判斷并輸出。
該系統(tǒng)軟件設計具有良好的消息處理機制，合理、有效判斷采樣，以及良好的外部控制。
5 測試結果
系統(tǒng)測試時選用雙T網(wǎng)絡(中心頻率為5 kHz)作為被測網(wǎng)絡。圖7給出實測的幅頻及相頻曲線。由圖可見，實測曲線中，該網(wǎng)絡的中心頻率在4．8 kHz附近。
6 結語
該系統(tǒng)尚存在AD9851的輸出頻率不太穩(wěn)定，顯示時有時無等不足，但這些問題可用軟件修正的辦法予以克服。
