幾種測(cè)試技術(shù)比較



  ICT測(cè)試是目前生產(chǎn)過程中最常用的測(cè)試方法,其具有較強(qiáng)的故障能力和較快的測(cè)試速度等優(yōu)點(diǎn)。該技術(shù)對(duì)于批量大,產(chǎn)品定型的廠家而言,是非常方便、快捷的。但是,對(duì)于批量不大,產(chǎn)品多種多樣的用戶而言,需要經(jīng)常更換針床,因此不太適合。同時(shí)由于目前線路板越來越復(fù)雜,傳統(tǒng)的電路接觸式測(cè)試受到了極大限制,通過ICT測(cè)試和功能測(cè)試很難診斷出缺陷。


  隨著大多數(shù)復(fù)雜線路板的密度不斷增大,傳統(tǒng)的測(cè)試手段只能不斷增加在線測(cè)試儀的測(cè)試接點(diǎn)數(shù)。然而隨著接點(diǎn)數(shù)的增多,測(cè)試編程和針床夾具的成本也呈指數(shù)倍上升。開發(fā)測(cè)試程序和夾具通常需要幾個(gè)星期的時(shí)間,更復(fù)雜的線路板可能還要一個(gè)多月。另外,增加ICT接點(diǎn)數(shù)量會(huì)導(dǎo)致ICT測(cè)試出錯(cuò)和重測(cè)次數(shù)的增多。


  AOI技術(shù)則不存在上述問題,它不需要針床,在計(jì)算機(jī)程序驅(qū)動(dòng)下,攝像頭分區(qū)域自動(dòng)掃描PCB,采集圖像,測(cè)試的焊點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫中的合格的參數(shù)進(jìn)行比較,經(jīng)過圖像處理,檢查出PCB上缺陷。極短的測(cè)試程序開發(fā)時(shí)間和靈活性是AOI最大的優(yōu)點(diǎn)。


  AOI除了能檢查出目檢無法查出的缺陷外,還能把生產(chǎn)過程中各工序的工作質(zhì)量以及出現(xiàn)缺陷的類型等情況收集,反饋回來,供工藝控制人員分析和管理。


  AOI與ICT的比較但


  AOI系統(tǒng)也存在不足,如不能檢測(cè)電路錯(cuò)誤,同時(shí)對(duì)不可見焊點(diǎn)的檢測(cè)也無能為力。


  AXI技術(shù)是目前一種相對(duì)比較成熟的測(cè)試技術(shù),其對(duì)工藝缺陷的覆蓋率很高,通常達(dá)97%以上。而工藝缺陷一般要占總?cè)毕莸?0%—90%,并可對(duì)不可見焊點(diǎn)進(jìn)行檢查,但AXI技術(shù)不能測(cè)試電路電氣性能方面的缺陷和故障。盡管如此,AXI技術(shù)在通信行業(yè)中的應(yīng)用前景令人看好。






摘自《中國電子報(bào)》2002.3.1
   

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