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By: Mario Simard
優(yōu)化 OTDR 和 iOLM 軟件應用程序的性能，應從光路的低反射強度開始考慮。因為較高的反射強度可能會拉長盲區(qū)。在測試 FTTx 網(wǎng)絡時，反射強度對性能的影響更為顯著，因為分光器會造成較大損耗。與 UPC 連接器相反，APC 連接器通常維持較低的反射強度，即使在臟污或磨損的情況下依然如此，從而確保最優(yōu)的測試性能。
OTDR 設計用于處理網(wǎng)絡上的高反射強度問題；但是，如果 OTDR 連接器上始終存在高反射強度，那么所有測試的性能都會受到影響，即使僅在 APC 的鏈路上也不例外。
反射強度對衰減盲區(qū)的影響
衰減盲區(qū)是一種規(guī)格指標，表示在反射點之后，OTDR 信號的光纖背向散射強度返回至低于 0.5 dB 的差值所需的距離。接收器電子器件和光電探測器都會導致在反射后出現(xiàn)恢復區(qū)。
在各廠商的 OTDR 規(guī)格指標中，衰減盲區(qū)的性能通常會被優(yōu)越的反射條件而掩蓋（–45 dB、–55 dB 甚至 –65 dB，具體取決于 OTDR 制造商）。眾所周知，反射強度水平會直接影響 OTDR 盲區(qū)，隨著反射強度的升高，盲區(qū)會變得更長。這是因為連接器反射強度可能比 OTDR 測得的背向散射信號強度高出很多數(shù)量級。
好的 UPC 連接器反射強度為 –55 dB，產(chǎn)生的信號峰值可能比 5 ns 脈沖的光纖背向散射（在 1550 nm 下約為 –75 dB）高 100 倍。不好的 UPC 連接器（反射強度通常為 –45 至 –25 dB）產(chǎn)生的信號峰值可能比光纖背向散射高 1000 至 100 000 倍。由于反射強度對背向散射的比值范圍如此之大，因此顯而易見的是，衰減盲區(qū)高度依賴于連接器反射強度。
圖 1. 反射強度為 –45 dB 和 –25 dB 的典型 OTDR 曲線：反射強度為 –25 dB 時衰減盲區(qū)出現(xiàn)顯著增長。
